涂層測厚儀：主要采用的是電磁感應(yīng)法來測量涂層的厚度。涂層測厚儀會在部件表面的探頭處產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，伴隨著探頭與鐵磁性材料之間距離的變化，該磁回路將會發(fā)生不同程度的改變，因此會引起磁阻及探頭線圈電感的變化。
超聲波測厚儀：這種測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射的原理來對物體厚度進(jìn)行測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖會發(fā)生反射而返回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間，來計(jì)算被測材料的厚度。
X射線測厚儀：此類測厚儀利用的是當(dāng)X射線穿透被測材料時(shí)，X射線強(qiáng)度的變化與材料厚度相關(guān)聯(lián)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計(jì)量儀器。
激光測厚儀：此類測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。
測厚儀是一類用來測量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度。測厚儀采用機(jī)械接觸式測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。